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1）主要技術參數：
2中心波長精度：優于±1nm；
2峰值波長精度：優于±1nm；
2光譜帶寬測量精度：優于±0.5nm；
2相對光譜響應度測量精度：優于±2%；
2非均勻性標定誤差：優于±1%；
2像素不均勻性測量精度：1%；
2）應用領域：
2線/面陣/TDI CCD以及CMOS等陣列光電探測器的光譜/輻射響應性能測試和標定。
3）成功應用案例：
2中科院新疆某研究所
2航天某院某研究所
2西北某大學
4）產品實物圖片：
↑↑ 航天某院某所敏感器大面陣CCD關鍵參數測量系統實物圖片
↑↑ 中科院新疆某研究所CCD光電參數測試設備實物圖片
↑↑ 紅外探測器光譜響應測試系統原理/結構圖
↑↑ 紅外探測器光譜響應測試系統實物圖片
